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192Ir单/双源无损探伤技术在JFE-HITEN610U2L低温球罐中的应用
          
192Ir Single/Dual Source Nondestructive Testing Technology in the JFE-HITEN610U2L Cold Spherical Tank

摘    要
为了减少球罐施工中无损探伤工作量和工期,经实践证明,采用192Ir源并配合T2类胶片的整体探伤方案可以在JFE-HITEN610U2L低温球罐焊缝无损探伤中使用,并且底片黑度和像质计灵敏度都达到了标准要求。此方案较传统的X射线探伤方式在工期、质量、HSE管理方面更有优势。这也是新版JB/T 4730—2005《承压设备无损检测》中关于γ源探伤相关要求的成功应用。
标    签 JFE-HITEN610U2L   乙烯   丙烯   球罐   192Ir源   X射线探伤   JFE-HITEN610U2L   Ethylene   Propylene   Spherical tank   192Ir source   X-ray testing  
 
Abstract
In order to reduce the workload and construction period of spherical tank non-destructive testing, the practice showed that the overall detection method with 192Ir and T2 class film could be used in nondestructive testing of low temperature spherical tank, and film blackness and the sensitivity of image quality met standard requirements. The method had the advantage of short construction period, quality, and HSE management over the traditional X-ray detection. It was also a successful application case of requirements on the γ-ray detection in the new version of JB/T 4730—2005 “non-destructive testing of pressure equipment”.

中图分类号 TG115.28

 
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所属栏目 试验研究

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收稿日期 2010/10/22

修改稿日期

网络出版日期

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备注王龙岗(1981-),男,助理工程师,主要从事石油化工设备的质量监理。

引用该论文: WANG Long-Gang,CHEN Yong-Jian. 192Ir Single/Dual Source Nondestructive Testing Technology in the JFE-HITEN610U2L Cold Spherical Tank[J]. Nondestructive Testing, 2011, 33(5): 57~60
王龙岗,陈用坚. 192Ir单/双源无损探伤技术在JFE-HITEN610U2L低温球罐中的应用[J]. 无损检测, 2011, 33(5): 57~60


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参考文献
【1】JB/T 4730—2005承压设备无损检测[S].
 
【2】李伟,季敏慧,陈用坚.大型球罐192Ir双源整体透照[J].压力容器,2000,17(2):82-84.
 
【3】郑世才.射线检测[M].北京:中国机械工业出版社,2004:58-68.
 
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